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Spectroscopie de pièges dans les isolants

par Laurence Laffont - publié le , mis à jour le

Le groupe DSF collabore avec le groupe du Prof Feihu ZHENG à l’Université Tongji, SHANGAÏ, ce a qui a facilité l’installation au Laplace de la méthode de décharge photostimulée (PSD) pour l’étude du piégeage de charges dans les isolants.
Le travail en commun a mené à plusieurs contributions à des conférences ces dernières années et à un article de synthèse sur les différentes méthodes mises en œuvre dans l’optique de réaliser une spectroscopie en énergie des pièges présents dans des isolants polymères.
Les avantages et inconvénients des différentes méthodes utilisant des détection / excitation électrique et/ou optique y sont discutées ainsi que les apparentes incohérences entre les résultats issus des différents principes de mesure.
Le projet a bénéficié de séjours de professeur invité (Feihu ZHENG à Toulouse en 2017), de chercheur invité (Gilbert TEYSSÈDRE à SHANGHAÏ en 2018 et 2019) et du support du projet Idex Sephir (2016-2019) porté par Laurent BOUDOU en collaboration avec Kremena MAKASHEVA, groupe SCiPRA, et avec la participation du DESP-ONERA.

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Référence : G. Teyssedre, F. Zheng, L. Boudou, C. Laurent, "Charge trap spectroscopy in polymer dielectrics : A critical review", J. Phys. D : Appl. Phys. vol. 54, p. 263001-1/30, 2021
L’article est disponible ici : https://doi.org/10.1088/1361-6463/abf44a
ou ici : https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03326106/